| 產(chǎn)品圖片 |
產(chǎn)品名稱/型號(hào) |
產(chǎn)品描述 |
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DLHL接觸電阻測(cè)試儀*的軟硬件設(shè)計(jì)，能有效消除測(cè)試導(dǎo)線電阻和測(cè)試鉗接觸電阻對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，改變測(cè)試導(dǎo)線長(zhǎng)度對(duì)測(cè)試結(jié)果也無(wú)影響。
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HLY-200A回路電阻測(cè)試儀克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。接觸電阻測(cè)試儀在嚴(yán)重干擾條件下，液晶屏Z后一位數(shù)據(jù)能穩(wěn)定在1個(gè)字范圍內(nèi)，讀數(shù)穩(wěn)定，重復(fù)性好.回路電阻測(cè)試儀能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流。
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HTHL-100P接觸電阻測(cè)試儀在嚴(yán)重干擾條件下，液晶屏Z后一位數(shù)據(jù)能穩(wěn)定在1個(gè)字范圍內(nèi)，讀數(shù)穩(wěn)定，重復(fù)性好.回路電阻測(cè)試儀能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流?；芈冯娮铚y(cè)試儀克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。
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回路電阻測(cè)試儀克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。HLR-100/200回路電阻測(cè)試儀在嚴(yán)重干擾條件下，液晶屏Z后一位數(shù)據(jù)能穩(wěn)定在1個(gè)字范圍內(nèi)，讀數(shù)穩(wěn)定，重復(fù)性好.回路電阻測(cè)試儀能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流。
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JTHR-100/200A回路電阻測(cè)試儀克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。接觸回路電阻測(cè)試儀在嚴(yán)重干擾條件下，液晶屏Z后一位數(shù)據(jù)能穩(wěn)定在1個(gè)字范圍內(nèi)，讀數(shù)穩(wěn)定，重復(fù)性好.回路電阻測(cè)試儀能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流。
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ZD3C接觸回路電阻測(cè)試儀在嚴(yán)重干擾條件下，液晶屏Z后一位數(shù)據(jù)能穩(wěn)定在1個(gè)字范圍內(nèi)，讀數(shù)穩(wěn)定，重復(fù)性好.回路電阻測(cè)試儀能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流，ZD2C回路電阻測(cè)試儀克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。
